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雙微焦斑單晶X射線(xiàn)衍射儀檢測(cè)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線(xiàn)衍射儀，采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì)，通過(guò)TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)，成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換，而無(wú)需對(duì)光。通過(guò)TWIST TUBE技術(shù)，使用戶(hù)可以進(jìn)行雙微焦斑單晶X射線(xiàn)衍射儀檢測(cè)。

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2024-09-12

廠(chǎng)商性質(zhì)：代理商

訪(fǎng)問(wèn)量：2496

產(chǎn)品咨詢(xún) 17621138977

產(chǎn)品分類(lèi)

PRODUCT CLASSIFICATION

三維X射線(xiàn)顯微鏡（XRM）

D6 Phaser SKYSCAN 2214 CMOS版 D8

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晶體日記（十五）- 真實(shí)的數(shù)據(jù)質(zhì)量（2）

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雙微焦斑單晶X射線(xiàn)衍射儀檢測(cè)

項(xiàng)目	細(xì)則	收費(fèi)	說(shuō)明
室溫測(cè)試	整套數(shù)據(jù)3h以?xún)?nèi)；一般要求警惕尺寸大于50μm；整套數(shù)據(jù) 3h 以上，另需額外收費(fèi) 150 元/時(shí)	/	1.長(zhǎng)時(shí)間數(shù)據(jù)手機(jī)（大于5h）、復(fù)雜樣品等特殊測(cè)試，價(jià)格需面議
結(jié)構(gòu)解析	解析結(jié)構(gòu)；孿晶、復(fù)雜結(jié) 構(gòu)、不對(duì)稱(chēng)單元內(nèi)非氫原子個(gè)數(shù)大于 100 等價(jià)格面議	/
低溫耗材	低溫測(cè)試時(shí)使用液氮	/
晶胞參數(shù)確定	室溫測(cè)定	/
晶向確定	室溫測(cè)定	/
粉末衍射	室溫測(cè)定單一譜圖，每樣每次長(zhǎng)掃描 15min，延長(zhǎng)時(shí)間按 50 元/15min（校外按 100 元/15min）計(jì)，不足 15min 按 15min 計(jì)	/
廣角散射	每樣每次長(zhǎng) 掃描 15min，延長(zhǎng)時(shí)間按 50 元 /15min（校外按 100 元 /15min）計(jì)，不足 15min 按 15min 計(jì)	/

雙微焦斑單晶X射線(xiàn)衍射儀檢測(cè)

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線(xiàn)衍射儀，采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì)，通過(guò)TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)，成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換，而無(wú)需對(duì)光。通過(guò)TWIST TUBE技術(shù)，使用戶(hù)可以在1分鐘內(nèi)完成從線(xiàn)光源應(yīng)用（常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點(diǎn)光源應(yīng)用（織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū)）的切換，讓煩人的光路互換、重新對(duì)光等問(wèn)題從此成為歷史！
高精度的測(cè)角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個(gè)衍射峰（注意不是一個(gè)衍射峰）的測(cè)量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過(guò)0.01度，布魯克AXS公司向大家提供保證！
*的林克斯陣列探測(cè)器可以提高強(qiáng)度150倍，不僅答復(fù)提高設(shè)備的使用效率，而且大幅提高了設(shè)備的探測(cè)靈敏度。

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